|
Типичный размер (мм)
|
Чистота поверхности
|
Допустимое отклонение (мм)
|
Доступность
|
|
3x3x20
|
All surfaces polished
|
+/-0.02mm
|
In stock
|
|
5x5x30
|
All surfaces polished
|
+/-0.02mm
|
In stock
|
|
15x15x2
|
Double sides polished
|
+/-0.02mm
|
In stock
|
|
20x20x1
|
Double sides polished
|
+/-0.02mm
|
In stock
|
|
15x15x15
|
All surfaces polished
|
+/-0.02mm
|
In stock
|
Примечание. Другие размеры или спецификации могут быть настроены по вашему запросу.
● Низкое после-свечение
● Сцинтиллятор высокой плотности, высокий Z
● Относительно высокий светоотдача
● Выдерживает радиационный ущерб высокой энергией
● Подходит для применения с низкой активностью
Метод роста: Бриджмен
Максимальный размер: ∅ 80 мм x 200 мм
Доступные элементы: Монокристалл и 1D массив или 2D-массив
Неоднородность между пикселями в массиве: <15%
|
Основные свойства
|
|
Точка плавления (℃)
|
1598
|
|
Плотность (г / см3)
|
7.9
|
|
гигроскопический
|
None
|
|
Твердость (нс)
|
4~4.5
|
|
Длина волны макс. (Нм)
|
475
|
|
Показатель преломления
|
2.2~2.3
|
|
Время распада (нс)
|
14000
|
|
Легкий выход (фотоны / МэВ)
|
12000~15000
|
|
Выход фотоэлектрона (% NaI (Tl)) (для γ-лучей)
|
30~50
|
| Послесвечения (% @ 3ms) |
<0.1 |
| Длина излучения (см) |
1.06 |
Примечание. Доступны були, заготовки, полированные элементы и сцинтилляторные массивы.
Последующее свечение CdWO4 и CsI (Tl)
(3).png)
● Проверка безопасности
● Рентгеновская КТ
● Физика высоких энергий
● Ядерная медицина
Скачать
Видео
Обратная Связь
