click me!

Подложки сапфировые (Al2O3)

  • Отличная механическая и термическая прочность, устойчивость к химической коррозии, электрическая изоляция.
  • Максимальный диаметр: 6 дюймов, доступны круглые/квадратные и нестандартные формы.
  • Производство в чистых помещениях класса 1000 и упаковка в коробках/пакетах класса 100.
  • Стандартная или нестандартная
  • Ориентация: C-Cut, A-Cut, R-Cut, M-Cut или Custom
  • Идеально подходит для эпитаксиального выращивания тонких пленок различных материалов:  Сложные полупроводники III-V и II-VI, синие/белые/фиолетовые светодиоды (эпитаксиальный рост GaN-подложки MOCVD), микроэлектронные интегральные схемы (интегральная схема кремния на сапфире, SOS), рост ферромагнитных/сегнетоэлектрических тонких пленок, серия Y, La- серия тонких пленок из высокотемпературной сверхпроводимости (ВТСП).
Inquire for custom product  
Code Size Thickness Orientation Surface Finish Unit Price Delivery Inquiry
6505-001 10x10 мм 0,5 мм C-плоскость ССП Запросить 2 недели
6505-002 10x10 мм 0,5 мм C-плоскость ЦСП Запросить 2 недели
6505-003 Φ12,7 мм 0,5 мм C-плоскость ССП Запросить 2 недели
6505-004 Φ12,7 мм 0,5 мм C-плоскость ЦСП Запросить 2 недели
6505-005 Φ25,4 мм 0,5 мм C-плоскость ССП Запросить 2 недели
6505-006 Φ25,4 мм 0,5 мм C-плоскость ЦСП Запросить 2 недели
6505-007 φ50,8 мм 0,43 мм C-плоскость ССП Запросить 2 недели
6505-008 φ50,8 мм 0,4 мм C-плоскость ЦСП Запросить 2 недели
6505-009 φ100 мм 0,65 мм C-плоскость ССП Запросить 2 недели
6505-010 φ100 мм 0,5 мм C-плоскость ЦСП Запросить 2 недели
6505-011 φ150 мм 1,0 мм C-плоскость ССП Запросить 2 недели
6505-012 φ150 мм 1,0 мм C-плоскость ЦСП Запросить 2 недели

Сапфир является отличным материалом-подложкой для эпитаксиального выращивания различных тонких пленок. Сапфир обладает превосходной устойчивостью к высоким температурам, химической коррозии, электроизоляцией, широким оптическим пропусканием, непревзойденной механической твердостью и износостойкостью. Молекулярная связь сапфира прочная, что позволяет производить более тонкие изделия без разрушения.

Сапфировые пластины и подложки универсальны, их применение включает, помимо прочего, выращивание тонких пленок соединений III-V и II-VI для полупроводниковых светоизлучающих диодов (светодиодов), тонких пленок высокотемпературных сверхпроводящих (HTSC) серий Y и La. , микроэлектронные ИС (интегральная схема кремния на сапфире, SOS), гибридные микроэлектронные приложения и выращивание тонких ферромагнитных / сегнетоэлектрических пленок.

Сапфировые подложки и пластины с А-плоскостью являются подходящей альтернативой для приложений гибридной микроэлектроники, которые в основном включают HIC и MCM, благодаря их однородным диэлектрическим проницаемостям и высокой электрической изоляции. TlBaCaCuO (TbBaCaCuO), Tl-2212, гетероэпитаксиальная сверхпроводящая тонкая пленка, может успешно расти на композитной подложке из сапфирового оксида церия (CeO2) с a-плоскостью для получения отделки поверхности на уровне ангстрема.

В то время как сапфировые подложки и пластины с R-плоскостью находят широкое применение при гетероэпитаксиальном осаждении кремния для микроэлектронных ИС (высокоскоростное нанесение кремния на сапфир, SOS).

Сапфировые подложки и пластины C-плоскости также являются основными вариантами для выращивания методом химического осаждения из паровой фазы металлов (MOCVD) ряда тонких пленок соединений III-V и II-VI, помимо GaN, таких как AlN, AlGaN и InGaN, для производят современные синие, фиолетовые и белые светодиоды (LED), а также синие лазерные диоды (LD). Еще одним преимуществом сапфира с-плоскости является рост тонких сегнетоэлектрических пленок. Тонкие сегнетоэлектрические пленки (Pb,La)(Zr,Ti)O3 (PLZT), выращенные с помощью ВЧ-планарного магнетронного распыления на сапфире C-плоскости, также являются одним из заслуживающих внимания кандидатов для производства новой функциональной электроники. При напылении тонких сегнетоэлектрических пленок Pb(Zr,Ti)O3 (PZT) сапфировые подложки демонстрируют меньшую степень разориентации между кристаллитами по сравнению с подложкой Si и идеальное напряжение пробоя.

Сапфировые подложки и пластины M-плоскости могут быть пригодны для выращивания тонких ферромагнитных пленок Mn1-xS (например, выращивание MgxZn1-xO с помощью LP-MOCVD при солнечно-слепом ультрафиолетовом детектировании), импульсного лазерного осаждения Cr2O3 и других кобальтов, Mn5Ge3Cx и т. д. . слишком.

Hangzhou Shalom EO предлагает готовые и индивидуальные сапфировые подложки и пластины для эпитаксиального роста тонких пленок. Шалом ЭО обладает выдающимися возможностями и стремится производить высокоточные сапфировые пластины. Для изготовления пластин и подложек мы выбираем монокристаллический сапфир высочайшей чистоты. Для производства нашей продукции в чистой комнате класса 1000 используется ряд современного оборудования. Перед отправкой мы проводим рентгеноструктурный анализ и используем атомно-силовой микроскоп (АСМ) (см. отчеты в разделе технических изображений) для проверки продукта, чтобы гарантировать оптимальное качество поверхности продукта. Стандартные версии имеют ориентацию в плоскости C, хотя также доступны другие ориентации, включая плоскость a, плоскость r и плоскость m. Максимальный диаметр составляет 6 дюймов, а подложки могут иметь одностороннюю или двустороннюю полировку. Помимо стандартных круглых форм, доступны также другие формы, такие как квадратная и прямоугольная.

Общие характеристики:

Материалы Кристаллы Al2O3 или сапфир Ошибка ориентации ±0,5 град.
Ориентация Самолет <11-20> 2,379Å
R-плоскость <1-102> 1,740Å
М-плоскость <10-10> 1,375Å
C-плоскость <0001> 2,165Å
Максимальный диаметр 6 дюймов Чистка поверхности SSP (полированная одна поверхность) или
DSP (двойная полировка поверхности)


Основные свойства:

Кристаллическая структура Шестиугольный Константа элементарной ячейки a=4,748Å c=12,97Å
Точка плавления (℃) 2040℃ Кристальная чистота 99,99%
Плотность 3,98 (г/см3 Твердость 9(мес)
Тепловое расширение(/℃) 7,5 x10-6 Диэлектрические постоянные ~ 9,4 при 300 К по оси A ~ 11,58 при 300 К по оси C
Теплопроводность (калорий/℃ см·см) ⊥c //c
23℃ 0,055 26℃ 0,060
77℃ 0,040 70℃ 0,041

Кривые:

1) Типичная кривая рентгеновской дифракции (XRD) подложек кристаллов сапфира (Al2O3)

 



2) Типичная шероховатость поверхности сапфировой подложки (Al2O3) <0001>, измеренная с помощью атомно-силового микроскопа (АСМ) в масштабе 5 мкм x 5 мкм.




 

Al2O3 Пластины D100x0,5мм <100> вырезанные DSP

Al2O3 Пластины D100x0,5мм <100> вырезанные DSP

Al2O3 Пластины D150x1,0мм <100> вырезанные DSP

Al2O3 Пластины D150x1,0мм <100> вырезанные DSP

Пластины Al2O3 Φ12,7x0,5 мм <100> DSP

Пластины Al2O3 Φ12,7x0,5 мм <100> DSP